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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-10:2011

UNE-EN 62047-10:2011

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 10: Ensayo de compresión de los micropilares en materiales MEMS. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2011.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (Endorsed by AENOR in December of 2011.)

Dispositifs à semiconducteur - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS (Entérinée par l’AENOR en décembre 2011.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2011-12-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-10:2011(Idéntico)

IEC 62047-10:2011(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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