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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749/A2:2002

UNE-EN 60749/A2:2002

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques.

Fecha Edición:
2002-11-28 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2005-10-01
Equivalencias internacionales:

IEC 60749:1996/A2:2001(Idéntico)

EN 60749:1999/A2:2001(Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN 60749-11:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-3:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-9:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-10:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-12:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-13:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-7:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-2:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-4:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-6:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-1:2004

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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