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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-9:2003

UNE-EN 60749-9:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2020-04-08
Equivalencias internacionales:

EN 60749-9:2002(Idéntico)

IEC 60749-9:2002(Idéntico)

Anulaciones:
39
Idioma Formato

Formato físico y digital

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