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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-7:2003

UNE-EN 60749-7:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales..

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels.

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2014-07-22
Equivalencias internacionales:

EN 60749-7:2002(Idéntico)

IEC 60749-7:2002(Idéntico)

Anulaciones:
46
Idioma Formato

Formato físico y digital

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