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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-6:2003

UNE-EN 60749-6:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2020-04-08
Equivalencias internacionales:

EN 60749-6:2002(Idéntico)

IEC 60749-6:2002(Idéntico)

Anulaciones:
34
Idioma Formato

Formato físico y digital

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