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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-5:2003

UNE-EN 60749-5:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Fecha Edición:
2003-11-21 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2020-05-16
Equivalencias internacionales:

EN 60749-5:2003(Idéntico)

IEC 60749-5:2003(Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN 60749-5:2017

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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