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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-4:2003

UNE-EN 60749-4:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST).

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Fecha anulación:
2020-04-08
Equivalencias internacionales:

EN 60749-4:2002 (Idéntico)

IEC 60749-4:2002 (Idéntico)

Anulaciones:
38
Idioma Formato

Formato físico y digital

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