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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-30:2005

UNE-EN 60749-30:2005

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

Fecha Edición:
2005-11-02 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2023-09-22
Equivalencias internacionales:

EN 60749-30:2005(Idéntico)

IEC 60749-30:2005(Idéntico)

Anulaciones:
Modificaciones:

Es modificada por: UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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