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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-2:2003

UNE-EN 60749-2:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 2: Basse pression atmosphérique.

Fecha Edición:
2003-05-30 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Equivalencias internacionales:

EN 60749-2:2002(Idéntico)

IEC 60749-2:2002(Idéntico)

Anulaciones:
39
Idioma Formato

Formato físico y digital

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