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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-18:2003

UNE-EN 60749-18:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale)

Fecha Edición:
2003-11-21 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Fecha anulación:
2022-05-16
Equivalencias internacionales:

IEC 60749-18:2003(Idéntico)

EN 60749-18:2003(Idéntico)

IEC 60749-18:2002(Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN IEC 60749-18:2019

60
Idioma Formato

Formato físico y digital

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