Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>UNE
Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002

UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002

Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Fecha Edición:
2024-05-26 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha anulación:
2023-10-05
Fecha ratificación:
2002-11-01 /Anulada
Equivalencias internacionales:

IEC 60747-5-3:2001/A1:2002(Idéntico)

EN 60747-5-3:2001/A1:2002(Idéntico)

IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002(Idéntico)

59
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Descuentos no acumulables

Añadir a la cesta

50% descuento si compras la misma norma UNE en distintos idiomas.