UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002

Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure