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Normas UNE - AENOR
UNE 20607:1980

UNE 20607:1980

Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida.

FAILURE RATE SAMPLING PLANS AND PROCEDURES

Fecha Edición:
1980-12-15 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español
Fecha anulación:
2013-01-24
Versión confirmada en fecha:
2000-12-01
74
Idioma Formato

Formato físico y digital

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