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Normas UNE - AENOR
UNE 200004-2:2003

UNE 200004-2:2003

Cribado de fiabilidad mediante esfuerzos. Parte 2: Componente electrónicos.

Reliability stress screening - Part 2: Electronic components

Déverminage sous contraintes - Partie 2: Composants électroniques

Fecha Edición:
2003-07-25 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español
Fecha anulación:
2009-11-01
Equivalencias internacionales:

IEC 61163-2:1998(Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN 61163-1:2006

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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