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Códigos ISO – AENOR
ISO 23830:2008

ISO 23830:2008

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Répétabilité et constance de l'échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires

Fecha:
2008-11-05 / Published
Comité:
ISO/TC 201/SC 6
64,37
Idioma Formato

Formato digital

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