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Códigos ISO – AENOR
ISO 16531:2013

ISO 16531:2013

Surface chemical analysis — Depth profiling — Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

Analyse chimique des surfaces — Profilage d'épaisseur — Méthodes d'alignement du faisceau d'ions et la mesure associée de densité de courant ou de courant pour le profilage d'épaisseur en AES et XPS

Fecha Anulación:
2020-10-05 / Withdrawn
Comité:
54646
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 16531:2020

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Idioma Formato

Formato digital

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