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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC PAS 60679-6:2008

IEC PAS 60679-6:2008

Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guide

Fecha:
2008-02-27 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Inglés
Resumen (inglés):
IEC/PAS 60679-6 applies to the phase jitter measurement of quartz crystal oscillators and SAW oscillators used for electronic devices and gives guidance for phase jitter that allows the accurate measurement of r.m.s. jitter.
Resumen (francés):
Relaciones con otras normas IEC
157,33
Idioma Formato

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