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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 63287-2:2023

IEC 63287-2:2023

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 2: Concept de profil de mission

Fecha:
2023-03-29 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Resumen (inglés):
IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.
Resumen (francés):
L’IEC 63287-2:2023 fournit des lignes directrices pour l'élaboration de plans de qualification de la fiabilité à l’aide du concept de profil de mission, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prévue du produit. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.
84,86
Idioma Formato

Formato digital

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