Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>IEC
Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62951-7:2019

IEC 62951-7:2019

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 7: Méthode d’essai pour caractériser la performance des barrières en couches minces utilisées pour l’encapsulation des semiconducteurs organiques souples

Fecha:
2019-02-27 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62951-7:2019 specifies evaluation conditions and gives a method of measurement as well as a test set-up for the measurement of barrier performance for thin-film layer with ultra-low permeation rate under both flat and bending conditions. This document also includes the preparation of specimen, electrical contacts, sensor films and calculation procedures. For these purposes, this document provides terms, definitions, symbols, configurations, and test methods including test conditions such as temperature, relative humidity, testing time.
Resumen (francés):
L’IEC 62951-7:2019 spécifie des conditions d’évaluation et fournit une méthode de mesure ainsi qu’un montage d’essai pour la mesure de performance des barrières en couches minces à vitesse de perméation ultra faible, à la fois à plat et en conditions de flexion. Le présent document comprend également la préparation de l’éprouvette, les contacts électriques, les couches de détecteur et les modes opératoires de calcul. A cet effet, le présent document fournit des termes, des définitions, des symboles, des configurations et des méthodes d’essai, y compris des conditions d’essai telles que la température, l’humidité relative et la durée d’essai.
64,24
Idioma Formato

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta