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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-34:2004

IEC 60749-34:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34: Cycles en puissance

Fecha:
2004-03-10 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Resumen (inglés):
Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temperature. The power cycling test is complementary to high temperature operating life.
Resumen (francés):
Utilisé pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes. Ceci se produit lorsque des polarisations de fonctionnement à basse tension pour la conduction avant (courants de charge) sont périodiquement appliquées et enlevées en causant des variations rapides de température. L'essai de cycles de puissance est destiné à simuler des applications types en électronique de puissance, et est complémentaire à la durée de vie en fonctionnement à haute température.
Relaciones con otras normas IEC
41,14
Idioma Formato

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