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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-17:2019

IEC 60749-17:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons

Fecha:
2019-03-28 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-17:2019 is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
  1. updates to better align the test method with MIL-STD 883J, method 1017, including removal of restriction of use of the document, and a requirement to limit the total ionization dose;
  2. addition of a Bibliography, including US MIL- and ASTM standards relevant to this test method.
Resumen (francés):
L’IEC 60749-17:2019 est réalisé pour déterminer la sensibilité des dispositifs à semiconducteurs à la dégradation par perte d’énergie non ionisante (NIEL, Non-Ionizing Energy Loss). L’essai décrit dans le présent document s’applique aux circuits intégrés et aux dispositifs discrets à semiconducteurs, et est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s’agit d’un essai destructif.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
  1. mises à jour afin de mieux aligner la méthode d’essai avec la méthode 1 017 du document MIL-STD 883J, comprenant la suppression des restrictions d’utilisation du document, et une exigence visant à limiter la dose ionisante totale;
  2. ajout d’une bibliographie, comprenant les normes US MIL- et ASTM correspondant à la présente méthode d’essai.
36,56
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