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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60748-20-1:1994

IEC 60748-20-1:1994

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 20: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches - Section 1: Exigences pour l'examen visuel interne

Fecha:
1994-03-01 /Vigente
Resumen (inglés):
The purpose of these examinations is to check the internal materials, construction and workmanship of film and hybrid integrated circuits (F and HFICs). These examinations will normally be used prior to tapping or encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal defects that could lead to device failure in normal application. Other acceptance criteria may be agreed upon with the purchaser or supplier, respectively.
Resumen (francés):
Le but de ces examens est de vérifier les matériaux internes, la construction et la qualité d'exécution des circuits intégrés à couches et hybrides à couches (C et CIHC). Ces examens seront normalement effectués préalablement à la fermeture du boîtier ou à l'encapsulation afin de détecter et d'éliminer les C et CIHC dont les défauts internes pourraient mener à un échec du dispositif dans son fonctionnement normal. D'autres critères d'acceptation peuvent être négociés respectivement avec l'acheteur ou le fournisseur.
160,61
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