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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV

IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Fecha:
2009-11-25 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Resumen (inglés):
IEC 60747-5-3:1997+A1:2002 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems. This consolidated version consists of the first edition (1997) and its amendment 1 (2002). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

This publication is to be read in conjunction with IEC 60747-1:2006, IEC 62007-1:2008 and IEC 62007-2:2009.
Resumen (francés):
La CEI 60747-5-3:1997+A1:2002 décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas destinés à être utilisés dans le domaine des systèmes et sous-systèmes à fibre optique. Cette version consolidée comprend la première édition (1997) et son amendement 1 (2002). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006, la CEI 62007-1:2008 et la CEI 62007-2:2009.
Relaciones con otras normas IEC
399,34
Idioma Formato

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