Fecha:
2024-08-02
/Vigente
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Resumen (inglés):
IEC 60512-28-100:2024 specifies the test methods for signal integrity and transmission performance for connectors specified in respective parts of IEC 60603-7, IEC61076-1, IEC 61076-2, IEC 61076-3 and IEC 63171 series of standards for connecting hardware applications from 0,1 MHz up to 2 000 MHz, with reference to this document.
Note: This document is also suitable for testing signal integrity and transmission performance of connectors up to a lower value of maximum frequency; however, the test methodology specified in the detail specification for any given connector remains the reference conformance test for that connector.
The list of connector series of standards does not preclude referencing this document in other connector manufacturer’s specifications or published standards.
Test procedures provided herein are:
- insertion loss, test 28a;
- return loss, test 28b;
- near-end crosstalk (NEXT) test 28c;
- far-end crosstalk (FEXT), test 28d;
- transverse conversion loss (TCL), test 28f;
- transverse conversion transfer loss (TCTL), test 28g.
Other test procedures referenced herein are:
- shield transfer impedance (ZT), see IEC 60512‑26‑100, test 26e.
- coupling attenuation (aC), see IEC 62153-4-7 and IEC 62153‑4‑12.
- low frequency coupling attenuation (aCLF) see IEC 62153-4-7 and IEC 62153-4-15
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
-The frequency range has been modified to start at 0,1 MHz instead of 1 MHz, to include single-pair connectors.
-All tables and requirements have been revised down to 0,1 MHz, and partially improved to reduce the impact of the test fixture.
-Formulae to calculate the S-parameters from single-ended parameters have been added.
-A note was added for those parameters which are not applicable to single-pair connectors.
Resumen (francés):
L'IEC 60512-28-100:2024 spécifie les méthodes d’essai pour l’intégrité du signal et les performances de transmission pour les connecteurs spécifiés dans les parties respectives de l'IEC 60603-7, l'IEC 61076-1, l'IEC 61076-2, l'IEC 61076-3 et de la série de normes IEC 63171 pour connecter les applications matérielles de 0,1 MHz à 2 000 MHz, en référence au présent document.
NOTE Le présent document convient également pour soumettre à essai l’intégrité des signaux et les performances de transmission des connecteurs jusqu’à une valeur inférieure de fréquence maximale; toutefois, la méthodologie d’essai spécifiée dans la spécification particulière pour un connecteur donné reste l’essai de conformité de référence pour ce connecteur.
La liste de séries de normes concernant les connecteurs n’exclut pas le fait de faire référence au présent document dans d’autres normes publiées ou spécifications des fabricants de connecteurs.
Les procédures d’essai spécifiées ici sont les suivantes:
- perte d’insertion, essai 28a;
- affaiblissement de réflexion, essai 28b;
- paradiaphonie (NEXT), essai 28c;
- télédiaphonie (FEXT), essai 28d;
- perte de conversion transverse (TCL), essai 28f;
- perte de transfert de conversion transverse (TCTL), essai 28g.
Les autres procédures d’essai citées ici en référence sont:
- impédance de transfert, (ZT), voir l’IEC 60512‑26‑100, essai 26e;
- affaiblissement de couplage (aC), voir l’IEC 62153-4-7 et l’IEC 62153‑4‑12;
- affaiblissement de couplage basse fréquence (aCLF), voir l’IEC 62153-4-7 et l’IEC 62153-4-15.
Relaciones con otras normas IEC