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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60512-25-6:2004

IEC 60512-25-6:2004

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 25-6: Essai 25f: Diagramme de l'oeil et gigue

Fecha:
2004-05-26 /Vigente
Resumen (inglés):
Describes methods for measuring an eye pattern response and jitter in the time domain.
Resumen (francés):
Décrit les méthodes pour mesurer la réponse en diagramme de l'oeil et la gigue dans le domaine temporel.
96,45
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