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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60147-3A:1973

IEC 60147-3A:1973

Supplement A - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 3: Reference methods of measurement

Complément A - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 3: Méthodes de mesure de référence

Fecha:
1973-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Deals with VCEsat,h21E and h21E for transistors.
Resumen (francés):
36,49
Idioma Formato

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