DIN IEC 62415:2008-05

Constant Current Electromigration Test (IEC 47/1954/CD:2008) / Note: Date of issue 2008-05-19

/ Attention: Date de parution 2008-05-19

Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 47/1954/CD:2008) / Achtung: Erscheinungsdatum 2008-05-19

Información:

Fecha Anulación:

2010-12 /Withdrawn

Idiomas Disponibles:

Bilingüe

ICS:

31.080.01 - Semiconductor devices in general

Equivalencias internacionales:

IEC 47/1954/CD (2008-01)

Relación con otras normas DIN:

Es reemplazada por: DIN EN 62415 (2010-12)

Resumen:

This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.

In dieser Norm wird ein Verfahren für das gebräuchliche Prüfen auf Elektromigration von metallischen Leitern, Vias und Kontakten beschrieben.

Keywords:

Constant current load, Current density, Definitions, Electric conductors, Electric contacts, Electric current, Electric fields, Electrical engineering, Electromigration, Failure, Ions, Metal bond, Migration, Semiconductor devices, Testing, Testing conditions

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