DIN EN 62415:2010-12

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010

Dispositifs à semiconducteurs - Essai d´électromigration en courant constant (CEI 62415:2010); Version allemande EN 62415:2010

Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010

Información:

Fecha:

2010-12 /Active

Idiomas Disponibles:

Alemán

ICS:

31.080.01 - Semiconductor devices in general

Equivalencias internacionales:

EN 62415 (2010-06)

IEC 62415 (2010-05)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN IEC 62415 (2008-05)

Resumen:

This document describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.

In diesem Dokument ist ein Prüfverfahren zur Elektromigration bei metallischen Leitern, Durchkontaktierungen (Vias) und Kontaktelementen mithilfe der gebräuchlichen Konstantstrombeanspruchung festgelegt.

Keywords:

Constant current load, Continuous current, Current density, Definitions, Electric conductors, Electric contacts, Electric current, Electric fields, Electrical engineering, Electromigration, Failure, Ions, Metal bond, Migration, Semiconductor devices, Testing, Testing conditions

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