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Normas DIN – AENOR
DIN EN 62258-2:2011-12

DIN EN 62258-2:2011-12

Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats (IEC 62258-2:2011); English version EN 62258-2:2011 / Note: DIN EN 62258-2 (2005-12) remains valid alongside this standard until 2014-06-29.

Produits de puces de semiconducteurs - Partie 2: Formats d'échange de données (CEI 62258-2:2011); Version anglaise EN 62258-2:2011 / Attention: DIN EN 62258-2 (2005-12) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-06-29.

Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 2: Datenaustausch-Formate (IEC 62258-2:2011); Englische Fassung EN 62258-2:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62258-2 (2005-12) noch bis 2014-06-29.

Fecha:
2011-12 /Active
Idiomas Disponibles:
Inglés
Equivalencias internacionales:

EN 62258-2 (2011-07)

IEC 62258-2 (2011-05)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
This document specifies the data formats fro the exchange of semiconductor die products. It specifies a Device Data Exchange (DDX) format, with the prime goal of facilitating the transfer of adequate geometric data between the manufacturer and CAD/CAE user in the design process for electronic circuits, and formal information models that allow data exchange in other formats.
Dieses Dokument legt die Datenformate für den Austausch von Daten von Halbleiterchiperzeugnissen fest. Es legt das Bauelementedatenaustausch- (device data exchange, DDX) Format mit dem Hauptziel fest, die Übertragung ausreichender geometrischer Daten zwischen Chiphersteller und CAD/CAE-Anwender beim Entwurf elektronischer Schaltungen zu ermöglichen, und formale Informationsmodelle, die den Datenaustausch in anderen Formaten ermöglichen.
Keywords:
Assemblies, Automation, Automation systems, Chips, Components, Connections, Data, Data exchange, Data formats, Data representation, Delivery, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Exchange, Formats, Integrated circuits, Lists, Materials, Mechanical testing, Product data, Production, Semiconductor chips, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing, Wafers
162,71
Idioma Formato

Formato digital

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