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Normas DIN – AENOR
DIN EN 62047-7:2012-02

DIN EN 62047-7:2012-02

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011); German version EN 62047-7:2011

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques (CEI 62047-7:2011); Version allemande EN 62047-7:2011

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 7: BAW-MEMS-Filter und -Duplexer zur Hochfrequenz-Regelung und -Auswahl (IEC 62047-7:2011); Deutsche Fassung EN 62047-7:2011

Fecha:
2012-02 /Active
Idiomas Disponibles:
Alemán
Equivalencias internacionales:

EN 62047-7 (2011-08)

IEC 62047-7 (2011-06)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
This standard describes terms, definition, symbols, configurations, and test methods that can be used to evaluate and determine the performance characteristics of BAW resonator, filter, and duplexer devices as radio frequency control and selection devices.
In diesem Dokument sind Begriffe, Definitionen, Symbole, Konfigurationen sowie Prüf- und Messverfahren festgelegt, die für Bewertungen und Ermittlungen der Leistungs- und Funktionskenngrößen von Resonatoren, Filtern und Duplexern auf Basis akustischer Volumenwellen (BAW, en: bulk acoustic waves) als Bauelemente zur Regelung und Trennung von Hochfrequenzbauelementen verwendet werden können.
Keywords:
Characteristics, Components, Definitions, Duplex, Electrical engineering, Filters, High frequencies, Layers, Materials, Measurement, Measuring techniques, Microelectronics, Microsystem techniques, Properties, Samples, Semiconductor devices, System engineering, Testing, Testing conditions
101,68
Idioma Formato

Formato digital

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