Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>DIN
Normas DIN – AENOR
DIN EN 62047-4:2011-03

DIN EN 62047-4:2011-03

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008); German version EN 62047-4:2010

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 4: Spécification générique pour les MEMS (CEI 62047-4:2008); Version allemande EN 62047-4:2010

Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 4: Fachgrundspezifikation für Mikrosystemtechnik (IEC 62047-4:2008); Deutsche Fassung EN 62047-4:2010

Fecha:
2011-03 /Active
Idiomas Disponibles:
Alemán
Equivalencias internacionales:

EN 62047-4 (2010-10)

IEC 62047-4 (2008-08)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
This part of DIN EN 62047 describes generic specifications for MEMS, which are the basis for specifications given in other parts of this series for various types of MEMS applications. This standard specifies general procedures for quality assessment to be used in the IECQ-CECC system and establishes general principles for describing and testing of electrical, optical, mechanical and environmental characteristics. MEMS described in this standard are basically made of semiconductor material.
In diesem Teil der DIN EN 62047 sind Fachgrundspezifikationen für Bauteile der Mikrosystemtechnik (MST) als Basis für die Spezifikationen beschrieben, welche in anderen Teilen dieser Serie für unterschiedliche MST-Anwendungsbereiche angegeben sind. Diese Norm enthält Festlegungen sowohl zu allgemeinen Verfahren für Qualitätsbewertungen, um sie innerhalb des IECQ-CECC-Systems zu verwenden, als auch allgemeine Prinzipien zur Beschreibung und Messung bzw. Prüfung von elektrischen, optischen, mechanischen und umgebungsspezifischen Kenngrößen. Bauteile der Mikrosystemtechnik, die in dieser Norm beschrieben sind, werden grundsätzlich auf der Basis von Halbleiter-Werkstoffen hergestellt.
Keywords:
Automation, Bus systems, Classification systems, Communication technology, Components, Data bus, Electrical engineering, Electrical properties, Electromechanical, Environment, Generic specification, Information processing, Information technology, Materials, Measuring techniques, Mechanical properties, Microelectronics, Microsystem techniques, Microtechnique, Optical properties, Parameters, Properties, Quality assessment, Semiconductor devices, Specification (approval), Symbols, System engineering, Tensile strain, Tensile testing, Testing, Testing conditions, Testing devices, Thin films, Thin-film technology
91,87
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Descuentos no acumulables

Añadir a la cesta