Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>DIN
Normas DIN – AENOR
DIN EN 62047-22:2012-11

DIN EN 62047-22:2012-11

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47F/128/CD:2012) / Note: Date of issue 2012-11-12

/ Attention: Date de parution 2012-11-12

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 47F/128/CD:2012) / Achtung: Erscheinungsdatum 2012-11-12

Fecha Anulación:
2015-04 /Withdrawn
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Equivalencias internacionales:

IEC 47F/128/CD (2012-08)

Relación con otras normas DIN:

Es reemplazada por: DIN EN 62047-22 (2015-04)

Resumen:
This International Standard specifies a tensile test method to measure electromechanical properties of conductive thin micro-electromechanical systems (MEMS) materials bonded on non-conductive flexible substrates.
Dieses Dokument legt ein Zug-Prüfverfahren fest, mit dem die elektromechanischen Eigenschaften leitfähiger dünner MEMS-Werkstoffe (MEMS; en: micro-electromechanical system), die auf nicht leitfähigen flexiblen Substraten gebondet wurden, zu messen.
Keywords:
Base materials, Components, Conductive, Definitions, Dimensions, Electrical engineering, Electromechanics, Materials, Measurement, Measuring techniques, Mechanical properties, Microelectronics, Microsystem techniques, Properties, Samples, Semiconductor devices, Substrates (coating), System engineering, Tensile testing, Tensile tests, Testing, Testing conditions, Testing system, Thin films, Thin-film devices, Thin-film technology
55,05
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Descuentos no acumulables

Añadir a la cesta