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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-29:2012-01

DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011 / Note: DIN EN 60749-29 (2004-07) remains valid alongside this standard until 2014-05-12.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essai mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage (CEI 60749-29:2011); Version allemande EN 60749-29:2011 / Attention: DIN EN 60749-29 (2004-07) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-05-12.

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-29 (2004-07) noch bis 2014-05-12.

Fecha:
2012-01 /Active
Idiomas Disponibles:
Alemán
ICS:

31.080.01 - Semiconductor devices in general

Equivalencias internacionales:

EN 60749-29 (2011-08)

IEC 60749-29 (2011-04)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN EN 60749-29 (2004-07)

Reemplaza a: DIN EN 60749-29 (2009-11)

Resumen:
This part of DIN EN 60749 covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. This test method is primarily applicable to CMOS devices. Applicability to other technologies must be established.
In diesem Teil der DIN EN 60749 sind für integrierte Schaltungen sowohl die I-Prüfbeanspruchung als auch die Überspannungs-Latch-up-Prüfbeanspruchung beschrieben. Es ist vorrangig bei CMOS-Bauelementen anwendbar. Die Anwendbarkeit auf andere Technologien ist gesondert festzulegen.
Keywords:
Climatic tests, Components, Definitions, Destructive testing, Dimensions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Failure, Integrated circuits, Latch-up, Mechanical testing, Overvoltage tests, Reliability, Resistance, Resonators, Semiconductor devices, Testing, Testing devices
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