DIN EN 60747-15:2012-08

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010); German version EN 60747-15:2012 / Note: DIN EN 60747-15 (2004-08) remains valid alongside this standard until 2014-01-20.

Dispositifs à semi-conducteurs - Dispositifs discrets - Partie 15: Dispositifs de puissance à semiconducteurs isolés (CEI 60747-15:2010); Version allemande EN 60747-15:2012 / Attention: DIN EN 60747-15 (2004-08) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-01-20.

Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 15: Isolierte Leistungshalbleiter (IEC 60747-15:2010); Deutsche Fassung EN 60747-15:2012 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60747-15 (2004-08) noch bis 2014-01-20.

Información:

Fecha:

2012-08 /Active

Idiomas Disponibles:

Alemán

ICS:

31.080.01 - Semiconductor devices in general

Equivalencias internacionales:

EN 60747-15 (2012-03)

IEC 60747-15 (2010-12)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN EN 60747-15 (2004-08)

Reemplaza a: DIN IEC 60747-15 (2007-06)

Resumen:

This part of IEC 60747 gives the requirements for isolated power semiconductor devices excluding devices with incorporated control circuits.

Dieser Teil von IEC 60747 enthält die Anforderungen für isolierte Leistungs-Halbleiterbauelemente, ausgenommen Bauelemente mit eingebauter Steuerschaltung.

Keywords:

Acceptance inspection, Components, Definitions, Discrete devices, Electrical engineering, Electrical insulating materials, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Endurance testing, Inspection, Integrated circuits, Measurement, Measuring techniques, Reliability, Semiconductor devices, Symbols, Testing

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