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Normas BSI – AENOR
BS ISO 22493:2014

BS ISO 22493:2014

Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary

Fecha:
2014-04-30 /Under Review
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 22493:2014

Relación con otras normas BSI:

Reemplaza a: BS ISO 22493:2008

Keywords:
Electron optics, Terminology, Electron beams, Electron microscopes, Microscopes, Vocabulary, Optical instruments, Instrumental methods of analysis, Scanning electron microscopes
218,62
Idioma Formato

Formato digital

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