UNE-EN IEC 60749-37:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)
| Edition date: |
2023-01-01
In Force
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| Confirmation date: | 2025-12-15 |
| Ratification date: | 2023-01-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic EN IEC 60749-37:2022 Identic IEC 60749-37:2022 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 60749-37:2008 |










