UNE-EN IEC 60749-30:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)
| Edition date: |
2020-11-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2020-11-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Standards Cancellations |
Cancel to UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011 Cancel to UNE-EN 60749-30:2005 |
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International Equivalence |
Identic EN IEC 60749-30:2020 Identic IEC 60749-30:2020 |










