UNE-EN IEC 60749-18:2019
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)
| Edition date: |
2019-07-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2019-07-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Standards Cancellations |
Cancel to UNE-EN 60749-18:2003 |
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International Equivalence |
Identic EN IEC 60749-18:2019 Identic IEC 60749-18:2019 |










