UNE-EN IEC 60749-10:2022
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)
| Edition date: |
2022-07-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2022-07-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic IEC 60749-10:2022 Identic EN IEC 60749-10:2022 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 60749-10:2003 |










