UNE-EN 62418:2010
Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)
| Edition date: |
2010-10-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2010-10-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic IEC 62418:2010 Identic EN 62418:2010 |










