UNE-EN 62374-1:2010
Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
| Edition date: |
2011-03-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2011-03-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080-Semiconductor devices |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Standards Cancellations |
Cancel to UNE-EN 62374:2007 |
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International Equivalence |
Identic EN 62374-1:2010 Identic EN 62374-1:2010/AC:2011 Identic IEC 62374-1:2010 |










