UNE-EN 62047-26:2016
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)
| Edition date: |
2016-06-01
In Force
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|---|---|
| Confirmation date: | 2025-12-15 |
| Ratification date: | 2016-06-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.99-Other semiconductor devices |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic EN 62047-26:2016 Identic IEC 62047-26:2016 |










