UNE-EN 62047-18:2013
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
| Edition date: |
2013-11-01
In Force
|
|---|---|
| Ratification date: | 2013-11-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.99-Other semiconductor devices |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
International Equivalence |
Identic EN 62047-18:2013 Identic IEC 62047-18:2013 |










