UNE-EN 62047-11:2013
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de expansión térmica lineales de materiales MEMS independientes (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
| Edition date: |
2013-11-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2013-11-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.99-Other semiconductor devices |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic IEC 62047-11:2013 Identic EN 62047-11:2013 |










