UNE-EN 60749-4:2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
| Edition date: |
2017-07-01
In Force
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|---|---|
| Ratification date: | 2017-07-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Standards Cancellations |
Cancel to UNE-EN 60749-4:2003 |
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International Equivalence |
Identic IEC 60749-4:2017 Identic EN 60749-4:2017 |










