UNE-EN 60749-20-1:2009
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manejo, empaquetado, etiquetado y transporte de los dispositivos con montaje en superficie que son sensibles a los efectos combinados de la humedad y al calentamiento de soldado. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2009.)
| Edition date: |
2009-09-01
In Force
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| Ratification date: | 2009-09-01 |
| Available languages: | English |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic IEC 60749-20-1:2009 Identic EN 60749-20-1:2009 |
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Modificaciones Normas |
Se modificará por UNE-EN IEC 60749-20-1:2026 |










