UNE-EN 60749-16:2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).
| Edition date: |
2003-11-21
In Force
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|---|---|
| Available languages: | English, Spanish |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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International Equivalence |
Identic EN 60749-16:2003 Identic IEC 60749-16:2003 |










