UNE-EN 12543-4:2000
Ensayos no destructivos. Características de los focos en equipos de rayos X industriales para su empleo en ensayos no destructivos. Parte 4: Método por efecto de bordes.
| Edition date: |
2000-05-31
In Force
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| Confirmation date: | 2015-10-02 |
| Available languages: | Spanish, English |
| ICS: | 19.100-Non-destructive testing |
| CTN: | CTN 130 - Ensayos no destructivos |
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International Equivalence |
Identic EN 12543-4:1999 |










