IEC 60115-1:2020
Fixed resistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification
| Edition date: |
2020-03-18
In Force
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|---|---|
| Available languages: | English, French |
| Summary: | IEC 60115-1:2020 is a generic specification and is applicable to fixed resistors for use in electronic equipment. It establishes standard terms, inspection procedures and methods of test for use in sectional and detail specifications of electronic components for quality assessment or any other purpose. This edition contains the following significant technical changes with respect to the previous edition: this 5th edition employs a new document structure, where the tests of prior Clause 4 are given in Clauses 6 to 12 now, with an informative Annex X providing cross-references for references to the prior revision of this standard; the terms and definitions have been revised and amended, supplemented by a new section on resistor technologies and a new section on product classification levels; a new Subclause 4.7 on recommendations for permissible substitutions has been added; the provisions for packaging, storage and transportation in Subclauses 4.8, 4.9 and 4.10 have been completely revised; a new Subclause 5.3 on default tolerances for the most common test parameters has been added; the generic method of measuring resistance, now Sublause 5.6, has been separated from the test for compliance with a prescribed resistance value in 6.1, as a revision of the prior 4.5; the test for the temperature coefficient of resistance of Subclause 6.2 is a revision of the prior test 4.8, variation of resistance with temperature, where the special concessions for resistors below 10 Ω have been waived; the test methods for endurance testing of Subclauses 7.1 to 7.3 (prior 4.25.1 to 4.25.3) have been completely revised; the single‑pulse high‑voltage overload test of Subclause 8.2 (prior 4.27) has been completely revised, and now offers adjustable severities for the 1,2/50 and for the 10/700 pulse shape for the benefit of detail specifications with improved significance; the periodic-pulse high-voltage overload test of Subclause 8.3 (prior 4.28) has been revised and a corrected table of severities provided; the period-pulse overload test of Subclause 8.4 (prior 4.39) has been deprecated and streamlined to only offer the severity historically applied in subordinate specifications; the Subclauses 9.1 on visual inspection, 9.2 on the gauging of dimensions, and 9.3 on the assessment of detail dimensions (all parts of prior 4.4) have been completely revised; the tests for robustness of terminations (prior 4.16) have been revised and separated into tests for the robustness of solderable terminations, Subclause 9.5, and tests for the robustness of threaded stud or screw terminations, Subclause 9.6; the bump test of Subclause 9.9 (prior 4.20) and the shock test of Subclause 9.10 (prior 4.21) have been revised to reflect the merged relevant test standard IEC 60068-2-29; the dry heat and cold test of the climatic sequence of Subclause 10.3 (prior 4.23) have been revised to reflect the changes of the relevant test standards IEC 60068‑2‑2 and IEC 60068‑2‑1; the accelerated damp heat, steady state test of Subclause 10.5 (prior 4.37) has been amended with an option for a reduced number of bias voltages; the corrosion test of Subclause 10.6 has been completely revised in order to employ the better suitable test method of IEC 60068-2-52 instead of the prior used IEC 60068-2-11; the whisker growth test of Subclause 10.7 has been revised to reflect the changes of the new revision of the test methods of IEC 60068-2-82; the test methods for solderability of Subclause 11.1 (prior 4.17) and for resistance to soldering heat of Subclause 11.2 (prior 4.18) have been completely revised to incorporate the necessary option for the variety of lead-bearing and lead-free solder alloys and respective process conditions; the solvent resistance test of Subclause 11.3 combines the prior tests 4.29, component solvent resistance, and 4.30, solvent resistance of marking, in one test; the accidental overload test of Subclause 12.3 (prior 4.26) has been completely revised; the Annex Q on quality assessment procedures has been completely revised; a new Annex R on failure rate evaluation, determination and qualification has been added. L'IEC 60115-1:2020 est une spécification générique et s'applique aux résistances fixes utilisées dans les équipements électroniques. Elle définit les termes normalisés, les procédures d'examen et les méthodes d'essai utilisés dans les spécifications intermédiaires et particulières des composants électroniques dans le cadre de l'assurance qualité, ainsi qu'à d'autres fins. Cette édition contient les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: cette 5e édition s'appuie sur une nouvelle structure de document, dans laquelle les essais du précédent Article 4 sont désormais présentés de l'Article 6 à l'Article 12, avec une Annexe X informative donnant des références croisées vers la version précédente de la présente norme; les termes et définitions ont été révisés et amendés, complétés par une nouvelle section relative aux technologies en matière de résistance et une nouvelle section relative aux niveaux de classification des produits; un nouveau Paragraphe 4.7 relatif aux recommandations en matière de remplacements admis a été ajouté; les dispositions en matière d'emballage, de stockage et de transport de 4.8, 4.9 et 4.10 ont été intégralement révisées; un nouveau Paragraphe 5.3 relatif aux tolérances par défaut pour la plupart des paramètres d'essai habituels a été ajouté; la méthode générique de résistance de mesure (5.6 désormais) a été séparée de l'essai pour des raisons de conformité avec une valeur de résistance spécifiée en 6.1, en révision du précédent 4.5; l'essai de coefficient de température de résistance de 6.2 est une révision du précédent essai de 4.8 (Variation de la résistance avec la température), des concessions particulières sur les résistances inférieures à 10 Ω ayant été consenties; les méthodes d'essai d'endurance de 7.1 à 7.3 (précédemment 4.25.1 à 4.25.3) ont été intégralement révisées; l'essai de surcharge haute tension à une seule impulsion de 8.2 (précédemment 4.27) a été intégralement révisé. Il propose désormais des sévérités pour la forme d'onde des impulsions 1,2/50 et la forme d'onde des impulsions 10/700 au profit de spécifications particulières avec signification améliorée; l'essai de surcharge haute tension à impulsions périodiques de 8.3 (précédemment 4.28) a été révisé et un tableau corrigé des sévérités est fourni; l'essai de surcharge à impulsions périodiques de 8.4 (précédemment 4.39) a été déconseillé et simplifié pour ne présenter que la sévérité historiquement appliquée dans les spécifications subordonnées; le Paragraphe 9.1 relatif à l'examen visuel, le Paragraphe 9.2 relatif au calibrage des dimensions et le Paragraphe 9.3 relatif à l'évaluation des dimensions détaillées (toutes les parties de l'ancien 4.4) ont été intégralement révisés; les essais de robustesse des sorties (précédemment 4.16) ont été révisés et divisés en essais de robustesse des bornes soudables (9.5) et essais de robustesse des bornes à tiges filetées ou à vis (9.6); l'essai de secousses de 9.9 (précédemment 4.20) et l'essai de choc de 9.10 (précédemment 4.21) ont été révisés pour refléter la norme d'essai pertinente fusionnée IEC 60068-2-29; l'essai de chaleur sèche et à froid de la séquence climatique de 10.3 (précédemment 4.23) a été révisé pour refléter les modifications apportées aux normes d'essai pertinentes IEC 60068‑2‑2 et IEC 60068‑2‑1; l'essai continu accéléré de chaleur humide de 10.5 (précédemment 4.37) a été amendé avec une option pour un nombre réduit de tensions de polarisation; l'essai de corrosion de 10.6 a été intégralement révisé afin d'utiliser la meilleure méthode d'essai adaptée de l'IEC 60068-2-52 en lieu et place de la précédente norme IEC 60068-2-11; l'essai sur le développement des trichites de 10.7 a été révisé pour refléter les modifications de la nouvelle révision des méthodes d'essai de l'IEC 60068-2-82; les méthodes d'essai de brasabilité de 11.1 (précédemment 4.17) et de résistance à la chaleur de brasage de 11.2 (précédemment 4.18) ont été intégralement révisées de manière à intégrer l'option nécessaire pour l'ensemble des alliages à braser avec plomb et sans plomb et les conditions de traitement respectives; l'essai de résistance au solvant de 11.3 combine les précédents essais de 4.29 (Résistance au solvant) et de 4.30 (Résistance au solvant du marquage) en un seul essai; l'essai de surcharge accidentelle de 12.3 (précédemment 4.26) a été intégralement révisé; l'Annexe Q relative aux procédures d'assurance de qualité a été intégralement révisée; une nouvelle Annexe R relative à l'évaluation, la détermination et la qualification du taux de panne a été ajoutée. |
| ICS: | 31.040.10-Fixed resistors |
| CTN: | TC 40 - 1219 |
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Standards Cancellations |
Anula a IEC 60115-1:2008 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN 60115-1 |
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