NF EN 60749-42
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : temperature humidity storage
| Edition date: |
2015-03-11
In Force
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|---|---|
| Available languages: | French |
| Summary: | La présente partie de l'IEC 60749 décrit une méthode d'essai pour évaluer l'endurance des dispositifs à semiconducteurs utilisés dans les environnements à température élevée et à forte humidité. |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|THERMAL ENDURANCE TESTS|HIGH TEMPERATURE TESTS|CLIMATIC CONDITIONS|TEMPERATURE|HUMIDITY|CORROSION RESISTANCE|FAILURE |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | |
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International Equivalence |
Identic EN 60749-42:2014 Identic IEC 60749-42:2014 |










